Comet Yxlon GmbH

• Seria: Seria FF
• Branża: motoryzacja, elektronika, lotnictwo, nauka i badania, półprzewodniki, produkcja dodatków
• Rozmiar defektu: <1µm, <50µm, <1mm, >1mm
• Rozmiar części: mały rozmiar, średni rozmiar
• Tryb pracy: 3D, 2D/3D, metrologia

• Dokładne analizy materiałów w zastosowaniach laboratoryjnych
• widoczność szczegółów 2D do 150 nm z lampą transmisyjną 190 kV
• Precyzyjna manipulacja i stabilność temperatury dzięki granitowej podstawie
• Intuicyjny graficzny interfejs użytkownika Geminy z ekranami dotykowymi
• Opcjonalna wersja metrologiczna z MPESD = 3,9 µm + L/75 [L w mm]
• Badania nieniszczące z wysoką energią

Im mniejsze stają się komponenty, tym ważniejsze jest uzyskanie bardzo dokładnych, niezawodnych skanów rentgenowskich i tomograficznych w celu zapewnienia jakości, kontroli procesu i kontroli małych serii. Niezwykle kompaktowe systemy wysokiej rozdzielczości Comet Yxlon FF20 CT i FF20 CT Metrology zostały zaprojektowane specjalnie do kontroli bardzo drobnych części i struktur wewnętrznych. Dzięki stosunkowo wysokiej energii 190 kV, nawet gęste elementy mogą być analizowane w najdrobniejszych szczegółach.

• Elementy elektroniczne, w tym SMD
• Pakiety półprzewodników
• Ogniwa baterii
• Tworzywa sztuczne formowane wtryskowo
• Produkty wykorzystujące nowe materiały lub nowe metody produkcji, np. komponenty wytwarzane addytywnie, tworzywa sztuczne wzmacniane włóknami
• Mikrosystemy (MEMS, MOEMS)
• Przedmioty medyczne, np. kaniule
• Próbki geologiczne, paleontologiczne i biologiczne

• Zapewnienie jakości, analiza materiałów, badania materiałów
• Analiza uszkodzeń i struktury
• Kontrola montażu
• Kontrola małych produkcji seryjnych
• Kontrola procesu
• Cyfryzacja
• Segmentacja