Comet Yxlon GmbH

• Seria: Seria FF
• Przemysł: motoryzacja, elektronika, lotnictwo, nauka i badania, odlewnie, półprzewodniki, produkcja dodatków
• Rozmiar defektu: <1µm, <50µm, <1mm, >1mm
• Rozmiar części: mały rozmiar, średni rozmiar, duży rozmiar
• Tryb pracy: 3D, 2D/3D, metrologia

• Konfiguracja z pojedynczą lub podwójną lampą zapewniająca najwyższą wszechstronność w zastosowaniach laboratoryjnych mikro-TK
• Przełączanie między lampami 225 kV micro-focus i 190 kV nano-focus w ciągu kilku sekund za pomocą jednego przycisku
• Dokładne wyniki dzięki manipulacji opartej na granicie i klimatyzacji
• Elastyczność zastosowań dzięki różnym trajektoriom CT i rozszerzeniom FoV za pośrednictwem platformy oprogramowania Geminy
• Opcjonalna wersja metrologiczna z MPESD = 5,9 µm + L/75 [L w mm]
• Dostępna jako wersja FF35 CT SEMI zgodna ze standardami rynku półprzewodników

Elastyczna kontrola bardzo małych i średnich części
Comet Yxlon FF35 CT, FF35 CT Metrology i FF35 CT SEMI obejmują niezwykły zakres zastosowań. Możliwości obejmują ulepszone testowanie materiałów w dziale badawczo-rozwojowym, optymalizację kontroli procesu i kontrolę małych serii, a także różne zastosowania naukowe. Podwójna lampa rentgenowska umożliwia systemowi CT o wysokiej rozdzielczości znaczne rozszerzenie możliwości zapewniania jakości i badań w przemyśle motoryzacyjnym, elektronicznym, lotniczym i materiałoznawczym.

• Podzespoły elektroniczne, w tym SMD
• Produkty wykorzystujące nowe materiały lub nowe metody produkcji, np. komponenty wytwarzane addytywnie, tworzywa sztuczne wzmacniane włóknami
• Ogniwa i moduły baterii
• Tworzywa sztuczne formowane wtryskowo
• Mikrosystemy (MEMS, MOEMS)
• Przedmioty medyczne, np. kaniule
• Odlewy ze stopów lekkich
• Próbki geologiczne, paleontologiczne i biologiczne

• Zapewnienie jakości, analiza materiałów i badania
• Analiza uszkodzeń i struktury
• Kontrola montażu
• Kontrola małych produkcji seryjnych
• Kontrola procesu
• Cyfryzacja
• Segmentacja